Avanços nos métodos LIT e LTE de onda completa na análise de linhas de laminas mais complexas
Usando dois eficientes métodos exatos de análises, a constante dielétrica efetiva e a impedância característica de novas estruturas de linhas de laminas unilaterais, bilaterais e trilaterais são obtidas. Os métodos consistem em usar as teorias de Linha de Transmissão Transversa e da Linha de Transmi...
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| Andre forfattere: | , |
| Format: | article |
| Udgivet: |
1987
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| Fag: | |
| Online adgang: | http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/9526 |
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Tilføj Tag | Summary: | Usando dois eficientes métodos exatos de análises, a constante dielétrica efetiva e a impedância característica de novas estruturas de linhas de laminas unilaterais, bilaterais e trilaterais são obtidas. Os métodos consistem em usar as teorias de Linha de Transmissão Transversa e da Linha de Transmissão Equivalente, no domínio espectral com o método dos momentos. As análises são gerais podendo ser aplicadas a qualquer estrutura planar. Resultados numéricos são apresentados para os parâmetros da dispersão característica de linhas de laminas unilaterais tridielétricas, bilaterais e trilaterais, com os dielétricos localizados simétrico e assimetricamente no plano-E do guia de ondas. |
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