Difracción de Rayos X para estudio de la Reducción de Precursores Catalíticos.
En el presente trabajo de titulación se utilizó la difracción de rayos X acoplada con el método de Rietveld para evaluar la reducción de 3 perovskitas dobles ordenadas: LaNi0,5Ti0,5O3, LaNi0,5Ti0,45Co0,05O3 y LaNi0,45Co0,05Ti0,5O3. El software empleado fue Fullprof Suite Program de uso libre. Los pa...
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | bachelorThesis |
| Idioma: | spa |
| Publicat: |
2022
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| Matèries: | |
| Accés en línia: | http://repositorio.espe.edu.ec/handle/21000/34064 |
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