Implementación de una cámara térmica con control de temperatura usando tarjetas de desarrollo embebido para aplicar estrés térmico durante pruebas HTRB en dispositivos semiconductores de potencia.

Este trabajo tuvo como objetivo la adaptación de una cámara térmica mediante control de temperatura usando tarjetas de desarrollo embebido para aplicar estrés térmico en pruebas de polarización inversa en alta temperatura (HTRB) en dispositivos semiconductores de potencia. En primer lugar, se realiz...

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Autore principale: Condo Ramos, Oscar Orlando (author)
Altri autori: Morejón Merino, Juan Sebastián (author)
Natura: bachelorThesis
Lingua:spa
Pubblicazione: 2022
Soggetti:
Accesso online:https://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/21273
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