Aplicación de la microscopía electrónica de barrido al análisis
El Microscopio Electrónico de Barrido, SEM por sus siglas en inglés, fue concebido en la década de 1930, y las primeras micrografías fueron obtenidas en los años cincuenta. Pero no fue hasta 1965 cuando el primer SEM comercial, el Stereoscan, fue puesto en el mercado por la Universidad de Cambridge,...
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | bachelorThesis |
| Idioma: | spa |
| Publicado em: |
2010
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://www.dspace.espol.edu.ec/handle/123456789/11157 |
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Adicionar Tag | Resumo: | El Microscopio Electrónico de Barrido, SEM por sus siglas en inglés, fue concebido en la década de 1930, y las primeras micrografías fueron obtenidas en los años cincuenta. Pero no fue hasta 1965 cuando el primer SEM comercial, el Stereoscan, fue puesto en el mercado por la Universidad de Cambridge, en Inglaterra. Desde esa época hasta hoy, gracias a la continua investigación y desarrollo, la Óptica Electrónica permite observar cualquier tipo de espécimen con gran detalle y calidad de imagen, constituyéndose así el SEM en una herramienta de gran utilidad en el estudio de los materiales. La presente Tesis de Grado trata acerca de la Aplicación de la Microscopía Electrónica de Barrido al Análisis Metalográfico y Fractográfico en elementos fracturados de motores de combustión interna. La finalidad de este proyecto es presentar las bases científicas y técnicas para el estudio de los diferentes componentes de un motor por medio de una herramienta tan versátil como lo es el SEM, empleando cada uno de sus instrumentos, sensores y detectores para observar y estudiar cada huella, marca, característica y propiedad de los materiales de los elementos objetos de análisis. A lo largo de esta Tesis se estudiará la interacción de un haz de electrones con una muestra extraída de cada elemento fracturado, y la posterior detección de las señales obtenidas a través del SEM. Como resultado, se podrán establecer las hipótesis de las causas de falla de los elementos estudiados, gracias a la interpretación de las imágenes de alto nivel de detalle provistas por el instrumento y a la teoría de análisis de fallas. |
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