Diseño de plataforma de trabajo para microcontroladores Atmel con visualización de salidas en tercer estado (tri-state) para probar su arquitectura con elementos de entrada y salida

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: ESPOL. FIEC (author)
Outros Autores: Contreras Urgiles, Marlon German (author), Ayala Rocafuerte, Arturo Mateo (author)
Formato: bachelorThesis
Idioma:spa
Publicado em: 2012
Assuntos:
Acesso em linha:http://www.dspace.espol.edu.ec/xmlui/handle/123456789/45918
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