Estudio del efecto de estrés térmico y eléctrico en dispositivos electrónicos a través de mediciones de ruido de baja frecuencia.

En este trabajo de titulación se estudió el efecto del estrés térmico y eléctrico en dispositivos semiconductores de potencia a través de mediciones de ruido de baja frecuencia. Como parte de la metodología se describen los pasos del diseño experimental partiendo desde establecer los requerimientos...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Berrones Asqui, Sofia Elizabeth (author)
Formato: bachelorThesis
Lenguaje:spa
Publicado: 2020
Materias:
Acceso en línea:https://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/18052
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