Aplicación de mediciones de ruido de baja frecuencia para el análisis de efectos de estrés térmico y eléctrico en dispositivos de potencia.

Este documento presenta el estudio del efecto del estrés térmico y eléctrico en dispositivos semiconductores de potencia a través de mediciones de ruido de baja frecuencia. Se aplico una prueba de Polarización Inversa a Alta Temperatura (HTRB por sus siglas en inglés) a los dispositivos de potencia,...

• 1. autor: Berrones, Sofía (author)
• Kolejni autorzy: Barcia Macías, Ronald Marcelo (author), Cajas Buenaño, Mildred (author), Morocho Caiza, Andrés (author)
• Format: article
• Język: spa
• Wydane: 2020
• Hasła przedmiotowe: RUIDO ELECTRÓNICO; CARACTERIZACIÓN ELÉCTRICA; FIABILIDAD EN DISPOSITIVOS DE POTENCIA; MEDICIÓN DE RUIDO DE BAJA FRECUENCIA; ELECTRONIC NOISE; ELECTRICAL CHARACTERIZATION; POWER DEVICES FIABILITY; LOW FREQUENCY NOISE MEASUREMENT
• Dostęp online: https://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/15770