Aplicación de mediciones de ruido de baja frecuencia para el análisis de efectos de estrés térmico y eléctrico en dispositivos de potencia.

Este documento presenta el estudio del efecto del estrés térmico y eléctrico en dispositivos semiconductores de potencia a través de mediciones de ruido de baja frecuencia. Se aplico una prueba de Polarización Inversa a Alta Temperatura (HTRB por sus siglas en inglés) a los dispositivos de potencia,...

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Bibliographic Details
Main Author:	Berrones, Sofía (author)
Other Authors:	Barcia Macías, Ronald Marcelo (author), Cajas Buenaño, Mildred (author), Morocho Caiza, Andrés (author)
Format:	article
Language:	spa
Published:	2020
Subjects:	RUIDO ELECTRÓNICO CARACTERIZACIÓN ELÉCTRICA FIABILIDAD EN DISPOSITIVOS DE POTENCIA MEDICIÓN DE RUIDO DE BAJA FRECUENCIA ELECTRONIC NOISE ELECTRICAL CHARACTERIZATION POWER DEVICES FIABILITY LOW FREQUENCY NOISE MEASUREMENT
Online Access:	https://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/15770
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Aplicación de mediciones de ruido de baja frecuencia para el análisis de efectos de estrés térmico y eléctrico en dispositivos de potencia.

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