CRITICAL-POINT YIELD MODEL TO APPRAISE DAMAGE CAUSED BY LEAF BLIGHT IN BEAN CROP

In Ecuador, the bean (Phaseolus vulgaris L.) is consumed by the population majority, and also a source of income for small and medium producers. One of the most important disease is the blight or root rot rhizoctonia, caused by the necrotrophic fungus Rhizoctonia solani Kuhn (teleomorph Thanatephoru...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Garcés Fiallos, Felipe Rafael (author)
Format: article
Język:eng
Wydane: 2011
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://revistas.uteq.edu.ec/index.php/cyt/article/view/99
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!