CRITICAL-POINT YIELD MODEL TO APPRAISE DAMAGE CAUSED BY LEAF BLIGHT IN BEAN CROP

In Ecuador, the bean (Phaseolus vulgaris L.) is consumed by the population majority, and also a source of income for small and medium producers. One of the most important disease is the blight or root rot rhizoctonia, caused by the necrotrophic fungus Rhizoctonia solani Kuhn (teleomorph Thanatephoru...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Garcés Fiallos, Felipe Rafael (author)
Μορφή: article
Γλώσσα:eng
Έκδοση: 2011
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://revistas.uteq.edu.ec/index.php/cyt/article/view/99
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!