Construcción de un banco de pruebas de integrados digitales para evaluar el funcionamiento de cada integrado digital de la familia CMOS de la serie del 40xx

El presente trabajo de Investigación se refiere a la construcción de un banco de pruebas para evaluar el funcionamiento de integrados digitales de la familia CMOS de la serie del 40xx. referido a compuertas lógicas, existentes en nuestro medio. El mencionado trabajo tiene el fin de ser implementado...

Бүрэн тодорхойлолт

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолч: Vásquez Teneda, Franklin Hernán (author)
Формат: bachelorThesis
Хэл сонгох:spa
Хэвлэсэн: 2000
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:http://dspace.ups.edu.ec/handle/123456789/16397
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!