Construcción de un banco de pruebas de integrados digitales para evaluar el funcionamiento de cada integrado digital de la familia CMOS de la serie del 40xx

El presente trabajo de Investigación se refiere a la construcción de un banco de pruebas para evaluar el funcionamiento de integrados digitales de la familia CMOS de la serie del 40xx. referido a compuertas lógicas, existentes en nuestro medio. El mencionado trabajo tiene el fin de ser implementado...

• Päätekijä: Vásquez Teneda, Franklin Hernán (author)
• Aineistotyyppi: bachelorThesis
• Kieli: spa
• Julkaistu: 2000
• Aiheet: INGENIERÍA ELÉCTRICA; INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN; CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES; ANÁLISIS DE CIRCUITOS ELÉCTRICOS; LOCALIZACIÓN DE FALLAS ELÉCTRICAS
• Linkit: http://dspace.ups.edu.ec/handle/123456789/16397