Construcción de un banco de pruebas de integrados digitales para evaluar el funcionamiento de cada integrado digital de la familia CMOS de la serie del 40xx
El presente trabajo de Investigación se refiere a la construcción de un banco de pruebas para evaluar el funcionamiento de integrados digitales de la familia CMOS de la serie del 40xx. referido a compuertas lógicas, existentes en nuestro medio. El mencionado trabajo tiene el fin de ser implementado...
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| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | bachelorThesis |
| Sprog: | spa |
| Udgivet: |
2000
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| Fag: | |
| Online adgang: | http://dspace.ups.edu.ec/handle/123456789/16397 |
| Tags: |
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