Estudio del efecto de estrés térmico y eléctrico en dispositivos electrónicos a través de mediciones de ruido de baja frecuencia.
- Authors
- Berrones Asqui, Sofia Elizabeth
- Format
- BachelorThesis
- Status
- publishedVersion
- Description
- Publication Year
- 2020
- Language
- spa
- Topic
- INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA
RIUDO
CARACTERIZACIÓN ELÉCTRICA
DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS
FIABILIDAD DE DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS
MEDICIÓN DE RUIDO ELECTRÓNICO
- Repository
- Repositorio Escuela Superior Politécnica de Chimborazo
- Get full text
- http://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/18052
- Rights
- openAccess
- License
- https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/ec/