Estudio del efecto de estrés térmico y eléctrico en dispositivos electrónicos a través de mediciones de ruido de baja frecuencia.

 

Authors
Berrones Asqui, Sofia Elizabeth
Format
BachelorThesis
Status
publishedVersion
Description

Publication Year
2020
Language
spa
Topic
INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA
RIUDO
CARACTERIZACIÓN ELÉCTRICA
DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS
FIABILIDAD DE DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS
MEDICIÓN DE RUIDO ELECTRÓNICO
Repository
Repositorio Escuela Superior Politécnica de Chimborazo
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http://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/18052
Rights
openAccess
License
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/ec/