Guevara, E., Tinajero, J. L., Guevara, M., & Cajas Buenaño, M. (2019). Análisis comparativo del nivel de defectuosidad en los dispositivos de potencia SiC n-MOSFETs.
Chicago Style CitationGuevara, Esteban, José Luis Tinajero, Mauro Guevara, and Mildred Cajas Buenaño. Análisis Comparativo Del Nivel De Defectuosidad En Los Dispositivos De Potencia SiC N-MOSFETs. 2019.
MLA CitationGuevara, Esteban, José Luis Tinajero, Mauro Guevara, and Mildred Cajas Buenaño. Análisis Comparativo Del Nivel De Defectuosidad En Los Dispositivos De Potencia SiC N-MOSFETs. 2019.
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