Construcción de un banco de pruebas de integrados digitales para evaluar el funcionamiento de cada integrado digital de la familia CMOS de la serie del 40xx

 

Authors
Vásquez Teneda, Franklin Hernán
Format
BachelorThesis
Status
publishedVersion
Description

Publication Year
2000
Language
spa
Topic
INGENIERÍA ELÉCTRICA
INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN
CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES
ANÁLISIS DE CIRCUITOS ELÉCTRICOS
LOCALIZACIÓN DE FALLAS ELÉCTRICAS
Repository
Repositorio Universidad Politécnica Salesiana
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http://dspace.ups.edu.ec/handle/123456789/16397
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 Ecuador